Специалисты Корейского института материаловедения и POSTECH решили применить технологии визуализации сверхвысокого разрешения, задействованные в современных топовых 8K-телевизорах, для улучшения разрешающей способности сканирующей электронной микроскопии. О создании новой технологии на основе ИИ пишет сетевое издание interest-news.ru.

Ученые сконцентрировались на создании технологии преобразования микроструктур, которые получаются благодаря дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD). Новый подход, как отмечают авторы научной работы, должен расширить возможности применения сканирующей электронной микроскопии (SEM).

Сегодня SEM играет важную роль в создании новых материалов — сканирующие электронные микроскопы применяются для визуализации микроскопических структур, анализа характеристик и численного моделирования. Однако существующие аппаратные ограничения влияют на точность, или делают SEM слишком затратной по времени технологией.

Для того, чтобы преодолеть недостатки SEM, ученые создали более точную и оперативную технологию визуализации, основанную на глубоком машинном обучении. Применение сверточных нейросетей позволило улучшить точность отображения микроструктур в шестнадцать раз, а также значительно сократить время визуализации.